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產(chǎn)品分類(lèi)
大型分析設備
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在同級產(chǎn)品中,Park XE7能夠帶來(lái)Z高納米級分辨率的測量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構,即獨立的XY軸和Z軸柔性?huà)呙杵?,XE7能夠實(shí)現平滑、正交且線(xiàn)性的掃描測量,從而精確成像和測量樣品的特征。此外,Park所*的True Non-Contact™模式還能為您帶來(lái)*的圖像效果,探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會(huì )受影響。
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