原子力顯微鏡

Park NX12可用于任何一個(gè)項目，NX系列的眾多掃描模式和模塊化設計使它可輕松地適應任何一個(gè)掃描探針顯微鏡的需求。

標準成像：

• 真正的非接觸模式AFM
• 接觸模式AFM
• 側向力顯微鏡（LFM)
• 相位成像
• 輕敲式AAFM

電性能：

• 導電AFM
• I-V譜線(xiàn)
• 掃描開(kāi)爾文探針顯微鏡（SKPM/KPM)
• 高電壓SKPM
• 掃描電容顯微鏡（SCM)
• 掃描電阻顯微鏡（SSRM)
• 掃描隧道顯微鏡 （STM)
• 掃描隧道光譜 （STS)
• 時(shí)間分辨的光電流測繪 （Tr-PCM)

磁性能：

• 磁力顯微鏡 （MFM)
• 可調外加磁場(chǎng)MFM

化學(xué)性能：

• 掃描電化學(xué)池顯微鏡（SECCM)
• 掃描電化學(xué)顯微鏡 （SECM)
• 電化學(xué)顯微鏡(EC-STM和EC-AFM)
• 功能化探針的化學(xué)力顯微鏡

熱性能：

• 掃描熱感顯微鏡(SThM)

光學(xué)性能：

• 探針增強拉曼光譜 (TERS)
• 時(shí)間分辨的光電流測繪 （Tr-PCM)

介電/壓電性能：

• 靜電力顯微鏡 （EFM)
• 動(dòng)態(tài)接觸式靜電力顯微鏡（DC-EFM)
• 壓電力顯微鏡 （PFM)
• 高電壓PFM

機械性能

• Pinpoint納米力學(xué)映射
• 力調制顯微鏡 （FMM)
• 納米壓痕
• 納米刻蝕
• 高電壓納米刻蝕
• 納米操縱
• 壓電力顯微鏡 （PFM)

力測量：

• 力－距離（F-D)光譜
• 力－體積成像
• 熱噪聲法標定彈性系數

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